10月16日，由深圳市中圖儀器股份有限公司承辦的坐標測量機技術交流會及GB/T 16857.5國家標準第三次討論會在深圳成功召開。本次會議匯聚了來自全國產品幾何技術規(guī)范標準化技術委員會、中國計量科學研究院、中國科學院微電子研究所、合肥工業(yè)大學、英國國家未來計量實驗室、深圳市中圖儀器股份有限公司等單位的坐標測量技術領域的專家、學者及企業(yè)代表，旨在深入探討行業(yè)新技術動態(tài)，并對關鍵國家標準的技術內容進行討論，為推動我國精密測量技術的規(guī)范化與高質量發(fā)展注入新動能。

深化標準研討，夯實技術基石

會議議程內容豐富而深入。與會專家、學者及企業(yè)代表就坐標測量機的前沿技術進行了廣泛交流，圍繞大尺度空間激光跟蹤測量技術及應用、面向特定任務的坐標測量機溯源技術、微納米三坐標測量機等前沿話題，帶來最新的研究成果與產品介紹。通過各位嘉賓精彩的分享，我們不僅看到了技術發(fā)展的“精度"在不斷提升，更看到了其應用“廣度"與“深度"的無限可能。

隨后，會議進入核心環(huán)節(jié)——對《GB/T 16857.5 產品幾何技術規(guī)范(GPS) 坐標測量系統(tǒng)(CMS)的驗收檢測和復檢檢測 第5部分：使用單探針或多探針、離散點和/或掃描測量模式的接觸式探測系統(tǒng)的坐標測量機》國家標準技術內容進行第三次集中討論。

該標準是坐標測量機（CMM）領域至關重要的一項規(guī)范，它明確規(guī)定了采用接觸式探測系統(tǒng)（包括單探針、多探針以及離散點和掃描模式）的坐標測量機的驗收檢測與復檢檢測方法。隨著測量技術的飛速發(fā)展，多探針與高速掃描技術的應用日益廣泛，對現(xiàn)有標準提出了新的要求。與會專家們就標準中的技術細節(jié)、檢測流程的嚴謹性、以及對新技術模式的適應性等關鍵問題展開了熱烈而富有建設性的討論，為標準的進一步完善奠定了堅實的基礎。此次討論對于統(tǒng)一行業(yè)檢測基準、保障坐標測量機的精度與可靠性、促進裝備制造業(yè)的質量提升具有深遠意義。

實地參觀交流，見證國產力量

當天下午，與會代表們移步至中圖儀器展廳進行參觀交流。作為國產自主化三坐標測量機的代表性企業(yè)，中圖儀器向與會嘉賓全面展示了其在精密測量領域的最新研發(fā)成果與制造實力。展廳內陳列的高性能三坐標測量機、激光跟蹤儀、非球面檢測輪廓儀、AI影像儀、閃測儀、白光干涉儀等核心產品，其測量精度、穩(wěn)定的性能表現(xiàn)以及先進的軟件系統(tǒng)，給參觀者留下了深刻印象。

通過實地觀摩與深入的技術交流，與會代表們親身感受到了中國在坐標測量裝備領域取得的突破性進展。中圖儀器在核心技術上的自主研發(fā)與創(chuàng)新，彰顯了“中國智造"在精密測量領域的強勁競爭力與巨大潛力。

本次技術交流會與國家標準的研討，不僅為行業(yè)內的技術交流與合作搭建了平臺，更通過實地考察，增強了業(yè)界對國產坐標測量技術發(fā)展的信心。標準的完善與技術的創(chuàng)新相輔相成，此次會議的順利召開，標志著我國在坐標測量領域的標準化工作和產業(yè)自主化進程上又邁出了堅實的一步，必將有力地推動我國制造業(yè)向高質量、高精度方向持續(xù)邁進。